据统计电子测量测试错误70%的原因都来源于不良的外围连接，在毫米波、太赫兹及高速数字应用中，这样的矛盾显得尤为突出，达通电子的目标就是为用户解决各种测试工作中的外围连接问题，通过精良可靠的解决方案将您的产品和各种先进测试仪表连接在一起，开启先进测试的第一步。

达通的使命便是使您的射频测试测量自动、高效、准确无误；拥有成熟的定制方案，丰富的端面选择，接受新界面定制开发等射频微波探针、探台、测试线、转接器及测试系统解决方案，使您的射频测试测量自动、高效、准确无误！系列产品也广泛应用于移动通讯设备、手机电脑、数字家电、航空航天、国防、芯片、射频识别、广播电视、仪器仪表、轨道交通、医疗设备等高新科技领域。

我司有完全自主可控的核心技术，相关专利证书已有51个，满足各种技术应用，具备先进的产品仿真设计到严格的生产管理体系及质量管理、监测体系；高精度机械加工技术、加工设备。

△手机、平板、智能穿戴自动化测试互联解决方案
   在各类移动终端产品上，其模块、电路等射频电路上均需要进行严格测试。针对射频电路板的性能测试在被测件所在的有限空间中，电板上器件安装密度高、测试批量大；探针的搭接测试方式提供了测试连接的快捷性和高可靠性。
   ●射频连接器；
   ●射频开关连接器；
   ●射频电路板测试点；

△螺纹连接器、板到板、PogoPin弹簧针自动化测试解决方案
   方案特点 ●频率高、驻波低；●稳定可靠；●经济耐用；

△微带探测PCB测试测量解决方案
    达通提供基于PCB信号传输检测的不同解决方案，使用各种不同形式的探针匹配不同的PCB信号测试点，测试高频信号，检查电路板的质量，为确保测试探针正确对齐测试点，探针需与安装夹具配合，确保准确的测量位置。
   ●DUTON为以下电路板测试点提供了射频探针；

△同轴系统完整测试方案
    达通电子可提供同轴及高低频系统探测搭接解决方案，频率DC-110GHz；
    射频微波器件及芯片测试；         高速数字电路测试；
    ●测试电缆；                                  ●测试电缆；
    ●测试同轴探头；                          ●射频高速连接器；   
    ●测试夹具；                                  ●射频高速差分PCB板；

△探针系统综合测试方案
    射频微波半导体芯片的测试需要在探针台完成，测试参数包含直流参数、射频参数等，达通电子为射频微波半导体芯片的测试提供定制化测试探针台、微波探针、校准片；可以方便与Keysight和RS等公司的微波测试仪表进行连接测试。
    主要产品型号：定制化探针台，包含手动测试台和自动测试台、微波探针及校准片；
    工作频率：DC-40GHz；
    特点：性价比高、可定制化设计、测试结果比较；
（在探针台上完成所需测试，测试参数包含直流参数、射频参数等；）
   ●精度高；
   ●频率范围宽；
   ●最具成本效益和精确的探针解决方案；
   ●操作简单、精密可靠；
   ●X轴Y轴可独立进行调整；
   ●定制探针座及探针间距；
   ●灵活的搭配选择方案；
   ●适合多种应用场景；